回放视频已上线！第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会圆满召开
导读：“第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会”已圆满召开，为响应广大参会者的需求，报告回放视频已全部上线，欢迎大家点击回看，温故知新。
表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。
为分享表面分析技术及应用研究的新进展，推动表面分析技术与应用领域的发展，仪器信息网于2023年11月14-15日举办了“第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会”，大会为期2天，共设置光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用等其他表面分析技术与应用共4个专场，吸引了近千名行业相关人士线上参会并积极讨论。
为响应广大参会者的需求，报告回放视频已全部上线，欢迎大家点击回看，温故知新。
第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会 | ||
回放视频 | 报告题目 | 演讲嘉宾 |
光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用专场 | ||
/ | 原位电子能谱技术的应用 | 姚文清 清华大学/国家电子能谱中心 研究员/副主任 |
XPS在材料研究中的应用 | 程斌 北京化工大学 研究员/副主任 | |
XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用 | 刘芬 中国科学院化学研究所 副研究员 | |
同步辐射光电子能谱技术及其应用 | 朱俊发 中国科学技术大学 教授 | |
扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用专场 | ||
纳米测量技术国际标准化工作的意义探讨 | 黄文浩 中国科学技术大学 教授 | |
基于扫描探针的原子制造技术的探索 | 陆兴华 中国科学院物理研究所 研究员 | |
多频静电力显微镜电学性质动态测量技术 | 钱建强 北京航空航天大学 教授 | |
/ | 日立AFM在表面分析方面的应用 | 刘金荣 日立科学仪器（北京）有限公司 高级工程师 |
扫描探针显微镜在神经形态器件中的应用研究 | 惠飞 郑州大学材料科学与工程学院 研究员 | |
原子力显微镜在高分子表征中的应用 | 张彬 郑州大学 教授 | |
电子探针/原子探针技术与应用专场 | ||
电子探针分析在关键金属矿产研究中的应用 | 陈振宇 中国地质科学院矿产资源研究所 研究室主任/研究员 | |
三维原子探针分析技术与应用 | 沙刚 南京理工大学 教授 | |
原子探针层析技术原理及其在镍基合金中的应用 | 李慧 上海大学 副研究员 | |
电子探针在材料科学中的应用 | 刘树帅 山东大学材料学院材料表征与分析中心 副主任 | |
二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用专场 | ||
/ | 二次离子质谱（SIMS）质量分辨的测量 | 李展平 清华大学分析中心 高级工程师 |
刘松 中国科学院上海光学精密机械研究所 副研究员 | ||
动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用 | 高钟伟 甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 技术工程师 | |
来源于：仪器信息网
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