致真精密仪器-晶圆级AFM新品上市！
产品介绍
利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征，可实现大晶圆级大样品形貌表征,电动样品定位台与光学图像相结合,可在 300X300 mm 区域实现1 um的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。
设备性能
XY方向噪声水平0.2 nm闭环,0.02nm开环
★Z方向噪声水平0.06nm闭环,0.03nm开环
★XY方向非线性度0.15%;Z方向非线性度:1%
扫描范围90umX90umX9um(典型值)80umX80umX8.5um(最小值)鸢0.58 x~7 x光学变倍镜头,光学分辨率可达3.45 um,可3 mm焦距微调样品尺寸:可检测12英寸晶圆并且向下兼容8、6、4英寸以及碎片样品,可自动上下料(选配)全自动探针逼近系统,行程35 mm,步进精度50 nm
来源于：致真精密仪器（青岛）有限公司
热门评论
最新资讯
厂商动态
新闻专题
更多推荐
写评论…
0