美国麦克仪器将在大连理工大学举办技术讲座

    比表面和孔隙度是确定材料质量和用途的两个重要物理性质，需要严格控制才能实现材料的特殊功能。即使对于相同粒度的粉体材料，也会由于材料内部颗粒比表面和孔隙度的差异，极大的影响材料的性能特点。化学吸附分析技术可以提供很多必要的信息（如金属分散度、活性金属表面积、活性颗粒尺寸和催化材料表面活性），以评价正在开发和生产的催化材料。粒度与稳定性是决定胶体性质的两个参数，胶体的稳定性又与Zeta电位密切相关，在研究和生产过程中，我们需要测定Zeta电位来确定胶体的分散情况从而确定产品的性能。

    作为材料表征权威公司，我们一直致力于研发材料表征的最新方法与技术，为广大用户提供更精确、更广泛应用的测试技术。为了和大家分享我们最新的研究成果，美国麦克仪器公司准备在12月4日在大连理工大学举办题为“粉体与纳米颗粒表面表征的最新进展”的技术讲座，我们诚邀您前来共同探讨、交流本行业的国际最新发展趋势。

研讨会时间：12月4日

地点： 大连理工大学化工实验楼C117室

地址：辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

主讲人：麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理许人良博士、应用部经理钟华博士

会务联系人：郭锐

联系电话：021-51085884-807

技术讲座基本内容：

1）纳米粒度测量与Zeta电位表征

2）颗粒及粉末的气体吸附表征技术：

• 气体物理吸附和化学吸附理论
• 物理吸附分析条件及数据的处理：
• 如何确定合适的分析条件，
• 如何对数据进行处理

许人良博士简介：

    许人良博士现任麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理。从事颗粒特性研究和检测技术30多年，是该领域国际资深著名专家。他于1987年和1988年在美国the State University of New York at Stony Brook获得硕士和博士学位。2002年获得美国Nova Southeastern University的MBA学位。

    他发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇；获得2项美国专利；研究成果在科学检索引用超过1500多次；在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次；并著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。现在担任5个专业期刊（Macromolecules, Langmuir, J. Coll. Inter. Sci.，等期刊）的评委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委员会成员；多项国际标准的起草者；被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域，在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学兼职教授，上海师范大学兼职教授，沈阳科学技术学会特邀外国专家。他是美国标准化委员会专家组组长、国际粉体检测与控制联合会理事、中国颗粒学会颗粒测试专业委员会理事、美国ASTM颗粒表征分委成员、美国化学学会(ACS)会员、美国物理学会(APS)会员、美国化学工程师学会(AIChE)会员、美国检测和材料学会（ASTM）会员。

    他曾获得的荣誉和奖励有：美国荣誉协会Sigma Beta Delta奖；A Certificate of Appreciation by Mayor of Metropolitan Dade County, FL；The Postdoctoral Fellowship awarded by National Science Engineering Research Council of Canada；A Certificate for the Sherwin-Williams Award by American Chemical Society；The World Bank Fellowship by the United Nation等。