Filmetrics F40 光学膜厚测量仪图片
本图片来自优尼康科技有限公司提供的Filmetrics F40 光学膜厚测量仪，型号为F40/F40-UV/F40-ERX/F40-NIR/F40-UVX的美商菲乐物性测试仪器及设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的UNICORN α500 系列低频消磁系统、Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪等仪器。
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