本图片来自亚铭(北京)科技有限公司提供的多功能整片基板纳米压印系统,型号为NX-B100/B200的 NANONEX半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为30万,公司还可为用户供应高品质的法国Sofraser振动式在线粘度计、德国EL-CELL锂电池膨胀仪等仪器。
亚铭(北京)科技有限公司是仪器信息网的银牌,合作关系长达16年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,请放心选择!
查看 多功能整片基板纳米压印系统 信息
同类推荐
看了null的用户又看了
纳米压印和高分辨率光刻系统
LUM样品管
纳米压印和高分辨率光刻系统
多功能集成清洁和单分子层气态镀膜系统
德国APV均质机
悬浮颗粒比表面积分析仪
肉类脂肪测试仪
在线粒度仪
微波介电常数测试仪
阴极电子源
太阳能电池量子效率测试系统
德国EL-CELL锂电池膨胀仪
LUMiReader分离分散性测试仪
Sofraser便携式在线粘度计
浓缩体系分散稳定性分析仪
日本AET高频(微波)介电常数测试仪
台湾奕叶探针台
Xplore微型注塑成型机
Xplore 微型流延膜
Xplore 微型纺丝机
德国ProRheo高温粘度计
K2 稳态和时间分辨荧光光谱仪
Alba 共轭焦光谱仪和图像显示工作站
脉冲激光沉积镀膜系统(PLD MBE)(PLD 脉冲激光沉积系统)
德国EL-CELL电化学热膨胀仪
德国Hildebrand国际橡胶硬度计
德国Hildebrand硬度计
美国Nova公司
悬浮颗粒稳定性测试仪
血液流变仪
Innolume 一体化连续半导体激光二极管驱动器 14pin 2A
iSPRAY-300半自动喷胶机
WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量设备
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
膜厚光谱分析仪系统
霍尔效应测试仪
嵌入式膜厚测试仪
膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
反射式膜厚测量仪
国产半导体晶圆表面形貌测量系统
晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备
高 压 气 瓶 主 阀 门 紧 急 切 断 装 置
无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器
日本共立氯水质测试器
中图仪器半导体无图晶圆粗糙度测量设备WD4000
半导体无图晶圆几何形貌检测机
Acculogic PCBA 飞针测试仪
Acculogic PCBA 飞针测试机
Acculogic ICT在线测试仪
Acculogic FLS980 Series 飞针测试机
ACCULOGIC 飞针测试机
Acculogic FLS980 飞针测试机
半导体晶圆厚度Warp检测设备
龙门运动平台系列YC-LMT6080多少钱一个 典型采购用户详情了解
OLED 图像测试发生器怎么样 生产厂商详细介绍
SKY–Novellus C1化学气象沉积设备-6好不好 使用亮点介绍
示波器多少钱 厂商联系方式介绍
SemilabSemilab SSM 汞探针CV测试设备其他好不好 厂商实力及地址简介
瑞普不限其他基本参数 生产厂商全面解析
ACL静电中和离子喷枪基本信息 厂商实力及地址简介
RoyceRoyce 650其他基本信息 厂商联系方式介绍
Klocke NanotechnikMicro Production其他报价 有哪些特点
诺信达格DAGE4000其他多少钱一台 使用亮点介绍
半球-其他价格 厂商联系方式介绍
SVS­ V6000 溅射台多少钱一个 生产厂商全面解析
其他半导体检测仪5月热度榜