纳米压印和高分辨率光刻系统图片
本图片来自亚铭（北京）科技有限公司提供的纳米压印和高分辨率光刻系统，型号为NX系列的 NANONEX半导体行业专用仪器设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为50万，公司还可为用户供应高品质的Xplore 微型双螺杆挤出机、法国Sofraser振动式在线粘度计等仪器。
亚铭（北京）科技有限公司是仪器信息网的银牌，合作关系长达16年，工商信息已通过人工核验，获得仪信通诚信认证，请放心选择！
查看 纳米压印和高分辨率光刻系统 信息
同类推荐
看了null的用户又看了
LUM样品管
纳米压印和高分辨率光刻系统
多功能集成清洁和单分子层气态镀膜系统
德国APV均质机
悬浮颗粒比表面积分析仪
肉类脂肪测试仪
在线粒度仪
微波介电常数测试仪
阴极电子源
太阳能电池量子效率测试系统
德国EL-CELL锂电池膨胀仪
LUMiReader分离分散性测试仪
Sofraser便携式在线粘度计
浓缩体系分散稳定性分析仪
日本AET高频(微波)介电常数测试仪
台湾奕叶探针台
Xplore微型注塑成型机
Xplore 微型流延膜
Xplore 微型纺丝机
德国ProRheo高温粘度计
K2 稳态和时间分辨荧光光谱仪
Alba 共轭焦光谱仪和图像显示工作站
脉冲激光沉积镀膜系统(PLD MBE)（PLD 脉冲激光沉积系统）
德国EL-CELL电化学热膨胀仪
德国Hildebrand国际橡胶硬度计
德国Hildebrand硬度计
美国Nova公司
悬浮颗粒稳定性测试仪
血液流变仪
PolyPico微量点样机
Innolume 一体化连续半导体激光二极管驱动器 14pin 2A
iSPRAY-300半自动喷胶机
WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量设备
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
膜厚光谱分析仪系统
霍尔效应测试仪
嵌入式膜厚测试仪
膜厚测量仪
椭圆偏光膜厚测量仪（手动）
椭圆偏光膜厚测试仪（自动）
反射式膜厚测量仪
国产半导体晶圆表面形貌测量系统
晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备
高 压 气 瓶 主 阀 门 紧 急 切 断 装 置
无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器
日本共立氯水质测试器
中图仪器半导体无图晶圆粗糙度测量设备WD4000
半导体无图晶圆几何形貌检测机
Acculogic PCBA 飞针测试仪
Acculogic PCBA 飞针测试机
Acculogic ICT在线测试仪
Acculogic FLS980 Series 飞针测试机
ACCULOGIC 飞针测试机
Acculogic FLS980 飞针测试机
半导体晶圆厚度Warp检测设备
太阳能电池缺陷检测系统报价 售后服务怎么样
SKY–Novellus C1化学气象沉积设备-6好不好 使用亮点介绍
TW系列无尘洁净烤箱基本参数 使用亮点介绍
RaveRave光罩雾化污染去除系统Rhazer及先进光罩修复系统nm450其他基本参数 厂商实力及地址简介
滨松PHEMOS-200其他是什么 厂商实力及地址简介
OLED及钙钛矿LED载流子特性分析系统怎么样 查厂商选仪器看报价
McScienceL5100其他基本信息 查厂商选仪器看报价
四袋电子束蒸发器价格 使用亮点介绍
正业XG系列其他多少钱一台 厂商联系方式介绍
MCCHPB-5B其他报价 厂商实力及地址简介
OLED连续式狭缝涂敷系统基本信息 典型采购用户详情了解
威思曼HEMX其他价格 使用亮点介绍
其他半导体检测仪5月热度榜