微焦点IGBT半导体模块X-Ray检测设备（高功率可测IGBT）图片
本图片来自深圳市伟铭光电有限公司提供的微焦点IGBT半导体模块X-Ray检测设备（高功率可测IGBT），型号为X6800A的伟铭光电物性测试仪器及设备，产地为中国大陆广东，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的伟铭光电X-Ray检测设备X6800、伟铭光电X射线检测设备X6000等仪器。
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