飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS图片

本图片来自爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司提供的飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS,型号为PHI nanoTOF 3+ULVAC-PHI化学分析仪器,产地为亚洲日本,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的PHI X射线光电子能谱仪PHI 硬X射线光电子能谱仪等仪器。
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司是仪器信息网的金牌,合作关系长达11年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证, PHICHINA客服电话:400-860-5168转3314,请放心选择!

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爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

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金牌11年

营业执照已认证

品牌性质: 授权经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

仪器种类: 飞行时间
原始束流或速能量: Bi初级离子源≥ 30 nA
质量分析范围: 1~12000 amu以上
质量分辨率: m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000
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