薄膜厚度均匀度测量系统图片
本图片来自上海昊量光电设备有限公司提供的薄膜厚度均匀度测量系统，型号为MPROBE 60的昊量测量仪器，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的超短脉宽（50fs）高功率飞秒激光器、1000-1700nm窄带光纤可调谐滤波器等仪器。
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