大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo图片

本图片来自大塚电子(苏州)有限公司提供的大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo,型号为ELSZ-neo日本大塚电子物性测试仪器及设备,产地为亚洲日本,属于品牌,参考价格为50万 - 60万,公司还可为用户供应高品质的大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000大塚电子小角激光散射仪PP-1000等仪器。
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大塚电子(苏州)有限公司

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金牌3年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 进口
粒度测量范围: 0.1nm~10μm
粒度测量重现性: ±2%
测试温度: 0~90℃
温控精度: 0.1℃
光信号频率: 638nm
粒度检测方法: 动态光散射法
样品量范围: 3μL~1.5ml
样品浓度范围: 0.001~40%
Zeta 电位测量范围: -200mv~+200mv
测量时间: 1sec/点
分子量测量范围: 340~20M
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