高分辨率X射线无损检测设备 半导体芯片检测图片
本图片来自苏州奥弗斯莱特光电科技提供的高分辨率X射线无损检测设备 半导体芯片检测，型号为MVX7500的奥弗斯莱特物性测试仪器及设备，产地为中国大陆江苏，属于品牌，参考价格为50万 - 100万，公司还可为用户供应高品质的工业无损探伤仪 X射线检测设备 SMT PCBA品质检测、X射线无损检测设备 工业ADR智能探伤仪等仪器。
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