膜厚测量仪图片
本图片来自瞬渺科技（香港）有限公司提供的膜厚测量仪，型号为-的半球半导体行业专用仪器设备，产地为亚洲日本，属于品牌，参考价格为0，公司还可为用户供应高品质的Holoeye空间光调制器PLUTO-2.1-NIR-149、350W激光器等仪器。
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