本图片来自瞬渺科技(香港)有限公司提供的嵌入式膜厚测试仪,型号为01的半球半导体行业专用仪器设备,产地为亚洲日本,属于品牌,参考价格为0,公司还可为用户供应高品质的膜厚测量仪、Hubner C-WAVE 可见近红外宽谱调谐激光源等仪器。
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