本图片来自深圳市中图仪器股份有限公司提供的无图晶圆膜厚检测设备,型号为371的中图仪器半导体行业专用仪器设备,产地为中国大陆广东,属于品牌,参考价格为300万,公司还可为用户供应高品质的共聚焦超分辨显微镜、国产白光显微干涉三维形貌检测仪等仪器。
深圳市中图仪器股份有限公司是仪器信息网的金牌,合作关系长达1年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,
中图仪器客服电话:400-860-5168转6117,请放心选择!
查看 无图晶圆膜厚检测设备 信息
同类推荐
看了关键尺寸测量设备的用户又看了
全自动一键快速全尺寸批量闪测仪
高精密影像尺寸测量仪器
材料检测3D成像共聚焦显微镜
精密三坐标高精度测量仪
中图仪器VX8000尺寸快速匹配校准闪测仪
中图chotest全自动智能AI影像仪
中图高精度纳米量级白光干涉测量仪
SJ5100接触式测长机长度测量仪
中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪
Mars系列高精密三坐标测量设备
cnc加工中心数控车床在线测量头
高精度空间坐标激光跟踪测量仪
精密纳米级白光干涉仪微尺寸检测仪
高精密全自动影像仪
晶圆探针式轮廓仪台阶仪
金属粗糙度轮廓度仪一体式测量仪
通用型三次元高精度坐标测量机
接触式大范围曲面精密粗糙度轮廓测量仪
超分辨率转盘共聚焦显微镜光学系统
纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量
高精度形状曲线轮廓测量仪
0.05ppm稳频精度激光干涉仪
机床探头在线检测系统
高精度量具量规测长机
高精度2.5D影像仪
国产中图高精度三坐标测量仪
GTS动态目标跟踪测量仪
国内精密高精度测长机测长仪
金属塑胶件全自动影像测量仪
纳米级微观三维形貌3D白光干涉仪
中图仪器半导体晶圆量测设备
中图仪器品牌晶圆几何形貌测量及参数自动检测机
半导体晶圆大翘曲wafer测量设备WD4000
超显微压痕硬度计
WD4000半导体晶圆厚度翘曲度测量系统
全自动薄膜质量控制
超声扫描显微镜
全自动超声波扫描显微镜
超声波扫描显微镜
半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统
半导体晶圆多维度几何形貌特征检测设备
半导体晶圆厚度高精度测量系统
WD4000半导体晶圆微观形貌测量系统
无图晶圆膜厚检测设备
晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统
无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机
Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量仪
便携式钢尺水位计水位测量器液位测量仪30米50米测量井地下水位
荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪
Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量系统
Sentronics 晶圆厚度系统、翘曲度测量系统
德国Sentronics晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp测量系统