本图片来自深圳市矢量科学仪器有限公司提供的超声扫描显微镜,型号为SAM Premium的PVA Tepla半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的微型轮廓仪(光学检测)、枚叶式等离子CVD设备等仪器。
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