本图片来自上海麦科威半导体技术有限公司提供的气氛开尔文探针系统KP,型号为KP5050的英国KP物性测试仪器及设备,产地为欧洲英国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的德国SciDre高功率激光浮区法单晶炉、 膜厚测量仪,薄膜厚度测量仪TohoSpec 3100等仪器。
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