光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo图片

本图片来自上海麦科威半导体技术有限公司提供的光学膜厚仪/薄膜测厚仪FR-pRo,型号为FR-pRoPOLOS半导体行业专用仪器设备,产地为欧洲希腊,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的真空回流焊炉,烧结炉RSS-110Metis软磁测量系统等仪器。
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