本图片来自北京正通远恒科技有限公司提供的光学表面缺陷分析仪,型号为AT系列的lumina半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的云端智能手持面阵扫描拉曼检测仪 M1S、阴极荧光 CL-SEM系统 Monch STEMs光收集和光注入系统等仪器。
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