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二氧化硅薄膜膜厚标准物质
标准物质编号:GBW13958中文名称:二氧化硅薄膜膜厚标准物质英文名称:Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si应用领域:光学特性标准物质用途:校准仪器和装置;评价方法;工作标准;质量保证/质量控制;其他 保存条件: 真空包装,阴凉、干燥处存放 使用注意事项:样品开封使用应保证取样工具等洁净,避免样品沾污。 量值信息:
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