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仪器简介：
技术参数：
X’Pert PRO X射线衍射仪是全新概念的预校准光路全模块化的X射线衍射仪可实现多种功能应用。不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。测角仪由于采用DOPS直接光学编码器，直流马达驱动，完全消除机械误差，精度与稳定性大大提高。配备多种新型光路及样品台模块：入射光有可编程发散狭缝、Mirror镜(平行光)、Lens镜（多毛细管透镜）、Monocapillary(单毛细管透镜）、 Hybird ( 平行光单色器）提高光源的利用效率；衍射光路有可编程防反射狭缝、可编程接收狭缝、X’celerator 探测器（新型高效能探测器〕、固体探测器、位敏探测器可选；样品台有微区、非环境、毛细管旋转等样品台。通过配置不同的光学模块和样品台，可满足由普通相分析到薄膜测定，高分辨分析，微区测定，应力，织构，非环境下动态研究，微量相测定等不同领域要求。
根据Benson Hart小角相机设计的小角散射附件使广角衍射仪可以实现纳米材料的粒度测定，符合国家标准纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法 （GB/T 13221-2004）和ISO/TS 13762:2001 速度快重现性好。
X'Celerator超能探测器为帕纳科公司最新产品，获2001年世界最佳100项R&D发明奖。可使探测器的接收效率或接收强度提高100倍，灵敏度提高10倍。全球销量已达千套。
技术参数：
1.测角仪精度：0.0001度
2.测角仪重现性：0.0001度
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