本测试系统用于铁电体的铁电性能测量,可用于铁电体的研究,也可作为近代物理实验中的固体物理实验设备,同时可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。该铁电性能测量系统不仅能画出铁电薄膜的电滞回线,还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数,还可以进行铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。该系统配铁电高压模块和铁电高压驱动模块,可测量陶瓷材料的铁电性能。
仪器采用一体化设计,实现测试结果全数字化,操作简单方便。本测试系统采用虚地模式测量电路,与传统的Sawyer-Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于仪器内部的器件精度,比较容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。
1、测试用信号源:计算机控制的任意波形。
2、测量放大器:计算机控制,1、4.5、15、80倍。
3、样品容量测试范围:1pF~10nF。
4、测量分辨率:4千分之一。
5、电滞回线内的测量点数:4~1000点可设。
6、疲劳性能测量周期范围:1秒~1*105小时。
7、保持性能测试周期范围:1秒~1*105小时。
8、输出电压范围:±10 V(用于薄膜测量)
配备的高压驱动模块和高压模块可输出±2000 V(用于陶瓷材料测量)
1、电滞回线测量,可以画出电滞回线及得到铁电材料的饱和极化±Ps、剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、
电容量C等参数。
2、铁电疲劳性能测量。
3、铁电保持性能测试。
4、电阻测量。
5、漏电流测量。
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