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组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
光 致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。 OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。 |  |
系统组成：激发光源+ 样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机
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OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数
| ● 激发光源：HeCd激光器 ● 激发光功率： 20mW ● 激发波长：325nm ● 瑞利散射截止滤光片，OD>6 ● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm） ● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅） ● 波长准确度：±0.2nm ● 波长重复性：±0.1nm ● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm ● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K ● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量 ● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱 |  |
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appnote-InGaNGaN量子阱光致发光和电致发光特性的测试半导体 2014-06-12
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