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X射线线阵探测系统

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品牌

Sens-Tech

型号

XDAS

产地

欧洲英国

应用领域

暂无
该产品已下架

英国Sens-Tech公司的前身是著名的EMI公司,是X射线探测器、信号数据采集系统和光电倍增管模块产品的专业供应商,在光电探测领域拥有丰富的成功经验。Sens-Tech的产品集信号探测、模拟信号放大、数字输出于一体,有多种控制功能可供选择,可方便地与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。


产品特点:

系统可以从64到21504个通道灵活架构

可提供0.4mm、0.8mm、1.6mm、2.5mm间距的多种探测器选择

Gadox、CsI、CdWO4、GOS等多种闪烁晶体可选

数据实时采集并同步输出

单/双能可选,高低能探测器安装在板子同侧或两侧可选

通过软件可以实现对每一块探测板增益的分别设置

同一探测板的高低能增益可分别8档调节

USB、以太网、PCI7300A卡等多种连接方式可选


应用领域:

行李箱包检查

矿用钢丝绳芯输送带检测

食品检测

数字医疗成像

工业在线测厚

无损探伤

工业CT

仪器简介:

X射线线阵探测系统由硅光二极管阵列和闪烁晶体组成,以实现对射线能量的探测。二极管阵列可以是一维或者两维扫描方式,由具体应用来决定。选择探测器需充分考虑了光谱响应,电容,暗电流,灵敏度,探测面积以及串扰的影响,选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器,并尽可能降低暗噪声,减小偏移量,获得最好的响应。同时,让各探测单元的探测面积和串扰达到最优化。



技术参数:

XDAS-V2系列---小于1Mev

探测器间距0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm
晶体类型Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4
积分时间(单次采样)100us – 50ms
信噪比 30000:1 (XDAS-V2-1.6,不带探测器,10pF)
25000:1 (XDAS-V2-1.6,带上探测器,10pF)
最大数据读出速率20MB/s
串扰 <0.1%(10pC增益)
数据输出位 16 Bit
输出接口 USB、千兆以太网或标准图像采集卡

  
 
 XDAS-HE系列---大于450Kev 

探测器间距 2.5mm,其他尺寸可根据客户要求定制
晶体类型 Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4
积分时间(单次采样) 320us &ndash; 1s
电子噪声 6ppm (不带探测器,350pC) 
25ppm (带上探测器,350pC)
最大数据读出速率40MB/s
线性 <0.1%
A/D转换位20 Bit
输出接口USB, PCI数据采集卡或千兆以太网



 



主要特点:

XDAS-V2系列---小于1Mev
采用专利的小信号搜集技术,产品质量好,性能稳定。多种探测器间距(0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm等)、单能/双能可选,晶体的种类和尺寸可选。模块化设计,每套系统中最多包含7块SP板,每块SP板可连接24块DH板,最高21500个探测通道。16bit 数据输出。信噪比高,不带探测器的信噪比可达30000:1。扫描速度快,100us的脉冲成型时间。多种信号输出接口可选。

XDAS-HE系列---大于450Kev 
具有2.5mm或更大的探测间距、高动态范围(50pC-350pC)、20bit的AD转换,40MB/s的读出速率、可探测高达6MV的高能射线,非常适合运用在大型集装箱(Co60式)和高能射线探测等领域。总探测长度可做到3m以上。系统长度一般为3到4米,但可以根据需要进行加长。

LINX系统---X射线探测系统 
LINX系统是含机械外壳的无损检测信号数据采集系统,通常使用XDAS-V2数据采集板。LINX的外壳是铝合金材料,附有铅板,避免辐射对电子器件的伤害。同时,有一个石墨窗口的准直器,以减少对X射线的吸收。系统可以根据不同应用来进行定制,探测器间距有0.4mm,0.8mm和1.6mm可选,探测长度可根据客户要求来做。

 

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