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仪器简介：
型号：S1 TURBOSD
品牌中的精英，精品中的极品！
快速、高效、准确；探矿、找矿、评估的最理想工具。
分析速度快，精度高，实现了现场分析地质化学成份，如矿石表面，岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样，可直接评估矿石级别，立时获得分析结果，不仅大大提高了生产力和生产进度，而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
SDD探测器的计数率和分辨率，远高于SI-PIN检测技术，分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低，结合FP校准模式，可检测所有矿石样品。
测量元素范围：
Mg, Al, Si, P, K,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ta, W, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ru, Rh等
金属矿：钾矿、钙矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、铁矿、钴矿、镍矿、铜矿、锌矿、锆矿、铌矿、钼矿、锡矿、锑矿、铅矿、铪矿、钽矿、铼矿、铋矿等；
非金属矿：磷矿、硫矿、砷矿、硒矿、碘矿等；
贵重金属：金矿、铂矿、银矿、钌矿、铑矿、钯矿等。
还可分析沉淀物、填料、精矿、尾矿、矿渣中残存的矿石元素及碎片；土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层；废水、废油等等的固体、液体物质等；
对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。
可选台式支架确保辐射安全，对特殊样品（如袋装的）进行测量，以保护环境。
对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析
野外操作时，自由携带，非常方便
技术规格
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管，Ag靶，40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；
能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
电源 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时
工作条件 温度：-20℃～+55℃ 湿度：0～95%
电池充电器 交流充电器：110/220V，50/60Hz
计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输 USB，无线蓝牙，SD卡
数据存储 主机：512MB
存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器 热表面适配器，可测量500℃高温样品
安全 密码保护，设有多级安全锁
运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证 整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
技术参数：
重量 1.5kg
尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源 X射线管，Ag靶，40kV
检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；
能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps
冷却系统 Peltier半导体冷却系统
主要特点：
分析速度快，精度高，实现了现场分析地质化学成份，如矿石表面，岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样，可直接评估矿石级别，立时获得分析结果，不仅大大提高了生产力和生产进度，而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
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