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仪器简介：
技术参数：
主要特点：
650型X射线荧光镀层厚度测量仪是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量。性价比绝佳的X荧光测厚仪；完美的检测性能指标；XYZ三维移动样品台，镭射对焦，操作简单；人性化软件蚧面设计，易学易懂， 更方便人员操作。
技术参数：
型号 650型
X射线管 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选
探测器 正比计数器
滤光器 一次滤光
样品观察 CCD高精度彩色摄像头
准直器 Ф3mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选
对焦系统 利用旋钮视觉对角
测量方向 从上向下
样品台 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，程控样品台，固定样品台)
可测元素 K到U
测试时间 镀层厚度：10-100s
元素含量 60-300s
元素含量分析指标 分析范围：100PPM-99.99%
准确度 5%
精确度 0.1%
检出限 1PPM
镀层厚度的检测指标 准确度：第一层5%，第二层10% 精确度：0.1%
检出限 0.01μm
测试软件 基本参数法
定性功能 自动标示存在元素
报告结果 自动生成
定量功能 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
数据处理 MS-EXCEL
主要特点：
材料分析和镀层厚度（膜厚）测量 镀液分析、黄金等贵金属鉴定
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