仪器对比
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消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
主要用途
· 各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
· 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
与原产品的主要区别
· 采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
· 受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
· 电源规格可对应AC100V以及AC220V。 (请您在下订单时注明电源规格。)
· 优化了软件的功能。(可显示10次测定的功能等)
· XY受台移动方向增加了比例尺。
· 更换卤灯时不需调整灯的位置。
· ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。
产品规格
· 本装置不保证为Traceability体系中的绝对精度。
测定波长
380nm～780nm
测定方法
与参照试料的比较测定
被测物N.A.
0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同
被测物W.D.
10.1mm(使用10×对物镜时)
3.1mm(使用20×对物镜时)
被测物的曲率半径
-1R～-∞、+1R～∞
被测物的测定范围
约φ60μm(使用10×对物镜时)
约φ30μm(使用20×对物镜时)
被测物再现性
±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时）
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时)
表示精度
1nm
测定时间
数秒～十数秒(因取样时间各异）
光源规格
卤灯 12V100W
装置重量
本体：约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源：约3kg、控制器：约8kg
装置尺寸
本体：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm
电源规格
光源用电源：100V (2.8A)/220V AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V AC
使用环境
水平且无振动的场所
温度：23±5℃
湿度：60％以下、无结露
软件
■测定参数设定
保存环境文档、可读取
■分光反射率测定
设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据)
取样时间设定
判定是否合格
波长方向刻度
■物体颜色测定
ＸＹ色度图、L*a*b*色度图
标准光源设定(A、B、C、D65)
视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定
镀膜材料折射率
*作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。
· 如规格及外观发生变更恕不另行通知，敬请谅解。
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