波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus Ⅳ
报价 ¥200万 - 300万
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扫描型
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4kw
4Be-92U
仪器简介：
ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500，适合少量样品分析。
软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描。应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析。流程条,按顺序显示测试处理内容。标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户。
维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便。
技术参数：
硬件：
1. 对应超轻元素的X射线光管：采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。
2. 采用新型光学系统：采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。
3. 48样品交换器：实现平台式共享化，可放置48个样品，多样品交换器实现了省空间。
4. 1次X射线滤光片：除去X射线光管的特征X射线光谱，在减低背景干扰方面发挥威力。
5. 双泵、双真空系统：采用双真空系统（样品室/预抽真空室）；防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的 结构设计，样品交换实现更高效率。
6. 粉末附件：电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。
7.定点分析：
100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。
采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到很佳灵敏度分析结果。(无r-θ样品台) 节能、节省空间、节能功能（自动减少X射线光管输出）减少冷却水量5L/min（水温30以下）PR气体流量减少（5mL/min）省空间。采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗。
软件：
1. 新版SQX软件：在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。
2. 委托分析EZ扫描：采用对话框形式设定，可进行SQX分析。
3. 定角测试模式：微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。
4. 应用模板 ：各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。
5. 散射线FP法：
不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。
流程条： 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。
其它特点的软件功能：
SQX分析功能
Mapping数据库
材质辨别
理论重叠校正
自动程序运转
校正投入量计算
应用软件包：
应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品）
CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。
主要特点：
1. 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高
2. 配备全新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
3. 重金属的高灵敏度分析-采用全新型光学系统
4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm
5. 完美的无标样分析-全新的SQX软件
6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
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地矿 2017-11-20
1年
是
有
现场不限人数培训，两个免费名额技术中心培训。
一年一次
两小时反应，4小时回应。
一个工作日内到达现场。
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产品质量:10
售后服务:9
易用性:9
性价比:10
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