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AF 200微型自动聚焦激光测量系统
德国BMT公司生产的AF200自聚焦测头系统，可替代现有传统的位移和粗糙度测头。实现快速非接触测量表面形貌，粗糙度以及精密位移。
激光测量光束借助于物镜聚焦于物体表面，物镜的位置连续可调，激光束的焦点总是与物体表面重合，可同时测量表面轮廓和局域反射光。
AFS传感器具有表面复现度高的特点，传感器可配备微型照相机适配器，以便能够直接通过物镜对表面片段直接观察，使激光光束精密定位。特别开发、高度集成的BMT-IC技术，传感器热漂移极低。高倍率孔径物镜，保证仪器无论在垂直方向还是在水平方向均能提供较高的分辨率。
主要用途：
激光测量光束借助于物镜聚焦于物体表面，物镜的位置连续可调，激光束的焦点总是与物体表面重合，可同时测量表面轮廓和局域反射光。
AFS传感器具有表面复现度高的特点，传感器可配备微型照相机适配器，以便能够直接通过物镜对表面片段直接观察，使激光光束精密定位。特别开发、高度集成的BMT-IC技术，传感器热漂移极低。高倍率孔径物镜，保证仪器无论在垂直方向还是在水平方向均能提供较高的分辨率。
主要用途：
◆ 具有完整表面复现的表面粗糙度和轮廓测量
◆ 精密位移测量
◆ 微机械零件的尺寸测量
◆ 金相测量
◆ 振动测量
◆ 厚度测量
◆ 微小区域内直线度、平面度、园弧半径的测量（如转位刀片刃口、金刚石刀具）
◆ 精密位移测量
◆ 微机械零件的尺寸测量
◆ 金相测量
◆ 振动测量
◆ 厚度测量
◆ 微小区域内直线度、平面度、园弧半径的测量（如转位刀片刃口、金刚石刀具）
主要特点：
◆ 非接触式表面轮廓测量、反射率的测量、垂直和横向的尺寸测量
◆ BMT-IC专利技术传感器
◆ 微型化的传感器
◆ 分辨率1nm
◆ 测量范围2000µm
◆ 光斑直径< 1µm
◆ 适用于制造业所有粗糙度测量
◆ 连续变焦
◆ BMT-IC专利技术传感器
◆ 微型化的传感器
◆ 分辨率1nm
◆ 测量范围2000µm
◆ 光斑直径< 1µm
◆ 适用于制造业所有粗糙度测量
◆ 连续变焦
主要优点：
◆ 在高保真轮廓复现下对3D结构进行快速的非接触式测量
◆ 测量结果与表面结构无关
◆ 数据采集和评估可归并到已有的软件中
◆ 具有可组装性，可组装到已有的系统中
◆ 测量结果与表面结构无关
◆ 数据采集和评估可归并到已有的软件中
◆ 具有可组装性，可组装到已有的系统中
技术数据：
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型 号
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AFS 1 传感器
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AFS 2传感器
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TFS传感器
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测量范围nm
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±500 / ±50
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±1000 / ±100
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±500 / ±50
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垂直分辨率nm
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1
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1
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工作距离mm
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2
|
2
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13
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激光班直径（约）µm
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0.5
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0.5
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1
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最大测量频率* kHz
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20
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20
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20
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最大视场倾角** °
|
20
|
20
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15
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激光波长nm
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635
|
635
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635
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激光等级
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1
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1
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1
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外形尺寸mm
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52 x 25 x 58
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52 x 25 x 58
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52 x 25 x 58
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重量（约）g
|
100
|
100
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100
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AF200 型自动聚焦激光测量系统信息由佰汇兴业（北京）科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于AF200 型自动聚焦激光测量系统报价、型号、参数等信息，佰汇兴业客服电话：400-860-5168转1921，欢迎来电或留言咨询。
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