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光学粒度分析仪CAMSIZER XTII–精细粉末和悬浮物的最佳质量控制技术
CAMSIZER XT II 对1μm-3mm颗粒样品的精确分析
干湿两用多功能粒径及粒形分析仪CAMSIZER XT II大幅度提高粉体质量控制范围，在1μm-3mm范围内实现真正的全量程准确测试。其原理基于Camsizer的双CCD镜头，但更优化细颗粒。
Camsizer XT II具有独特“ X-change”模块提供三种测量方式：“ Xflow”干法模块适应于不结块的流畅的颗粒可与自动进样器联用；“ X-Jet”气流分散进样模块可对结块的颗粒调压、加速和分散；“ X-wet”湿法分离模块通过超声对液体中的颗粒进行分散。
■ 更优化的专利双CCD镜头，提供最高的分辨率和准确的焦距
■ 可靠监测最小量的超大颗粒和超小颗粒
■ 可选择干法模块、气流分散进样模块及湿法分析模块，满足更多的应用需求
■ 测量时间短（ 1-3min），分析重现性好
光学粒度分析仪CAMSIZER XTII信息由广州艾威仪器科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于光学粒度分析仪CAMSIZER XTII报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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