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eWl ology是为太阳能电池片制作过程中不受材料、色差、硅片角度而设计的硅片表面测量系统。
该系统可以测量硅片的厚度，弯曲值，TTV ，MTV，LTV，锯痕等
的结果都可以自动传输到数据库或保存在本地计算机，可以将来用作分析。
系统可根据客户定义的要求来划分检测硅片的等级。
ology采用了现代高性能的部件得以*的结果和提高产品的质量。系统设计同时满足了生产线及研发实验室的环境要求。
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ESCAD硅片检测仪信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于ESCAD硅片检测仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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