• | 从点到面的二维测量,可同时测量最多16 处的测量范围内设定的测量项目。测量时间大幅缩短。 |
• | 新开发处高速生产线适用的二维专用处理器,使用2 个高速演算CPU 和图像处理专用DSP。 |
• | 高亮度LED 和W 远心光学系统构成的高精度空间。 |
多点外径和高度差 |
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测量多点变形 |
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定位 |
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厚度 |
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测量多点偏移 |
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