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能谱仪
仪器简介：
ORTEC在高纯锗（HPGe）和Si（Li）探测器的制造历史上有着四十多年的历史，这一方面的创造性进展几乎都由ORTEC完成。多年来，ORTEC的探测器性能不断提高，种类不断丰富，为不同领域内有着各自应用背景或样品特性要求的用户提供了广泛与实用的选择。半导体（高纯锗和Si（Li））探测器拥有精锐的能量分辨率，由其组成的γ和X射线能谱测量技术与产品，不仅是核结构、分子物理、原子碰撞等核物理与核反应研究的重要工具，而且在核电、环境、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多科学与社会领域得到了越来越广泛的应用。
ORTEC在高纯锗（HPGe）和Si（Li）探测器的制造历史上有着四十多年的历史，这一方面的创造性进展几乎都由ORTEC完成。多年来，ORTEC的探测器性能不断提高，种类不断丰富，为不同领域内有着各自应用背景或样品特性要求的用户提供了广泛与实用的选择。半导体（高纯锗和Si（Li））探测器拥有精锐的能量分辨率，由其组成的γ和X射线能谱测量技术与产品，不仅是核结构、分子物理、原子碰撞等核物理与核反应研究的重要工具，而且在核电、环境、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多科学与社会领域得到了越来越广泛的应用。
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