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OLED TOF测试系统

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品牌

McScience

型号

T3000

产地

亚洲韩国

应用领域

暂无

飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于

脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.


- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量



主要客户香港大学,中科院长春应化所,中科院福建物构所......



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1年

1次,根据需要可再协商

根据需要可协商

24小时响应

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