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将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的最新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品。
粒度粒形分析仪Zephyr系列是欧奇奥公司（Occhio）针对固体颗粒统计研究开发的一款粒径粒形分析仪。更多信息请点击这里
粒度粒形分析仪Zephyr系列仪器型号：
Zephyr 20μm~5mm颗粒粒度粒形分析仪
Zephyr ESR 20μm~75px颗粒粒度粒形分析仪
粒度粒形分析仪Zephyr系列分析参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况
（1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒最大长度，体积
（2）粒形参数：ISO 9276-6; 7; 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度
（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义
（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度
（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表
（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图
，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像
（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式
（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像
（9） 外部数据分析：可输入、分析外部数据
粒度粒形分析仪Zephyr系列主要特点：
精心设计的进样装置易于拆卸、方便清洗
专为大颗粒设计的样品输送系统无损耗
独特的光路设计确保聚焦精度，并可消除小颗粒边缘效应
通过高分辨CMOS得到高清晰颗粒图像
CALLISTO 软件强大的统计功能为颗粒分析护航
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