德国 PVA 超声波扫描显微镜

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品牌

暂无

型号

SAM 400 QUAD

产地

欧洲德国

应用领域

暂无

科视达（中国）有限公司

营业执照已认证

银牌会员
第6年

核心参数

产地类别：进口

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产品详情

PVA SAM 400 QUAD 四探头超声波扫描显微镜报价
（MEMS 及IGBT半自动双工位系统

德国PVA SAM 400 QUAD四探头超声波扫描显微镜

德国PVA SAM 400 QUAD 四探头超声波扫描显微镜是一款用于质量及工艺控制、科研方面的专业无损检测设备，采用了最新的射频和超声换能器技术，简单易用的图形用户界面提供了强大的功能，可轻松应对各种复杂的超声检测工作。
PVA SAM 400 QUAD是基于最新的产品技术和研究成果为用户量身定制的一套符合行业标准的核心平台，其扫描台采用超高速线性马达和磁悬浮技术，并采用四探头同步扫描，可精确处理样品的尺寸达430×430×120mm（长/宽/高），超声频率范围达500MHz，换能器频率范围为5-400MHz。新增加的双工位机台和样品吸盘，

对微小样品不需要采用胶粘的方式固定样品，同时可放置大量的样品，一次性同时扫描，
极大提高检测效率；

四探头超声扫描显微镜同时还可以配置最新的半自动IGBT样品检测系统，可以有效保护IGBT半成品在超声检测过程中芯片焊接的一面不接触水或其他介质，同时放置多个样品便于快速高效的检测，工业化的设计脱离了实验室单个样品检测的方式，适用于大批检测需求。

技术参数：

机械部分：
扫描系统：	X / Y / Z 三轴超高性能线性电机驱动扫描系统，X / Y 轴具有内置磁力悬浮机构，在高速扫描过程中可隔绝振动的影响，并采用光学编码接口的驱动方式，Z 轴采用触发接口的驱动方式
扫描范围：	X-Y 方向：最小 0.2×0.2mm，最大 430×430mm， Z 方向：100mm
最大扫描速率：	1,500 mm/s （根据扫描设置参数自动调整或手动调整）
扫描加速度：	1.5 m/s²
光学编码器分辨：	15 nm
重复精度：	+/- 0.1μm （由扫描台内置光栅尺分辨率决定）
Z-轴自动对焦：	专利号：DE102006005449A1
水槽尺寸：	670 x 560 x 150 mm或670 x 560 x 70 mm（针对晶圆Wafer检测）
电子部分：
脉冲接收器：	4× 500MHz 带宽
换能器可选范围：	5MHz - 400MHz
ADC 信号转换：	4×500M sample/s AD模数转换卡
双通道接口：	可在加装透射接收探头的情况下，将透射和C-扫描同时一次性进行（S-扫描模式）
工控计算机：	4×PC 工作站，CPU 3GHz 双核处理器，4GB 内存， 250G 以上硬盘，DVD-RW刻录光驱，高速图像卡， Windows 7操作系统，PS2，RS232，USB及网络接口，1台26" LCD 监视器（工控机的配置将随市场的升级而有所变化，以实际到货配置为准）
操作软件部分：
扫描模式：	A-，B-，C-，D-，G-，P-，X-，Z，3D-，顺序扫描，自动扫描，Tray-托盘扫描，B-scan定量测量，包括渡越时间功能的A-scan数字波形实时显示，预扫描和快速预扫描模式；扫描模式选件：Through 透射扫描（S-扫描: 透射+ C-扫描同时进行）
图像模式：	正、负、全峰值波形图像模式选择；平均值图像模式；渡越时间图像模式；相位翻转检测图像模式；表面跟踪图像模式；
图像分辨率：	最小 125 x 125 像素，最大 32,000 x 32,000像素
图像输出：	bmp，jpg，sam格式
定量测量：	自动分层面积百分比计算；自动尺寸标识；X - Y 长度计算；声阻抗计算及颜色设定；
图像着色：	根据相位翻转自动着色；根据灰度等级手动着色；根据渡越时间手动着色，根据厚度变化手动着色（已知材料的阻抗值）；
分析软件部分： SAMnalysis IA : 图像处理，包括图像增强、滤波、平滑、锐利等常规的图像处理功能；缺陷的量化分析，包括面积、数量、尺寸等统计功能；渡越时间分析；推拉窗口分析；厚度估计；声速计算；分层缺陷分析；波形比较分析；三维图像显示和分析；

换能器：根据客户提供样品进行测试，并推荐配置，5M -400M 均有提供。

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