电子分析天平 M-pact AX124-德国赛多利斯Sartorius
赛多利斯称重技术,如快速测量结果和赛多利斯非凡的可靠性
质量好,性价比较高
结合实际的设计,即使是天平的初次使用者,也可高效、无误地使用该天平进行工作
描述:
M-class天平是专为实验室和学校初次使用天平的用户而设计。各种型号,从用于自然科学研究的便携式精密天平,到自动校准的高精度分析天平,一应俱全。
M-Pact特点:
量程最大6,200 g
分辨率最大0.1 mg
自动内校
较大称量平台
产品特性:
量程 |
120 g |
校准 |
内校 |
可读性 |
0,1 mg |
防风罩 |
操作手册 |
显示器 |
LCD |
计量认证 |
无 |
技术属性:
秤盘尺寸 |
Ø 90 mm |
重复性 |
± 0.0002 g |
线性 |
|