仪器简介:
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围:0~2N;
试样厚度:0~0.2mm;
滑块尺寸:63X63X6;
滑块质量:200±2g;
工作台尺寸:200X400;
工作台运动速度:100±10mm/min
适用标准:GB10006及ISO8295
技术参数:
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围:0~2N;
试样厚度:0~0.2mm;
滑块尺寸:63X63X6;
滑块质量:200±2g;
工作台尺寸:200X400;
工作台运动速度:100±10mm/min
适用标准:GB10006及ISO8295
主要特点:
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围:0~2N;
试样厚度:0~0.2mm;
滑块尺寸:63X63X6;
滑块质量:200±2g;
工作台尺寸:200X400;
工作台运动速度:100±10mm/min
适用标准:GB10006及ISO8295