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表面测量仪器与系统Marsurf M1
设备提供符合DIN EN ISO/AMSE/prEN 10049的大部分参数（Ra,Rz,Rmax,and RPc)和JIS日本标准参数（Rz,Ra).
Perthometer M1 提供许多的测量功能。自动功能科识别周期及非周期轮廓，不需要预测量即可按照标准自动设置滤波参数，避免人为因素导致错误的设置。
在便携式应用中，可通过仪器内置的打印机自动或按键打印测量结果，也可以通过串口与计算机连接使用。
测量范围可达150μm
标准:DIN/ISO/JIS
测量长度：1.75mm,5.6mm,17.5mm
截止波长：0.25mm/0.80mm/2.5mm
可选截止波长
取样长度可选1至5个
根据标准自动选择过滤参数和取样长度
根据DIN EN ISO 11562的相位矫正滤波器
参数更具DIN/ISO/SEP:Ra,Rz,Rmax,RPc和JIS:Ra,Rz
根据轮廓幅值自动显示轮廓比例
打印粗糙度形貌和测量报告
动态测针校准
锁定设置。防止数据被故意更改
设备提供符合DIN EN ISO/AMSE/prEN 10049的大部分参数（Ra,Rz,Rmax,and RPc)和JIS日本标准参数（Rz,Ra).
Perthometer M1 提供许多的测量功能。自动功能科识别周期及非周期轮廓，不需要预测量即可按照标准自动设置滤波参数，避免人为因素导致错误的设置。
在便携式应用中，可通过仪器内置的打印机自动或按键打印测量结果，也可以通过串口与计算机连接使用。
测量范围可达150μm
标准:DIN/ISO/JIS
测量长度：1.75mm,5.6mm,17.5mm
截止波长：0.25mm/0.80mm/2.5mm
可选截止波长
取样长度可选1至5个
根据标准自动选择过滤参数和取样长度
根据DIN EN ISO 11562的相位矫正滤波器
参数更具DIN/ISO/SEP:Ra,Rz,Rmax,RPc和JIS:Ra,Rz
根据轮廓幅值自动显示轮廓比例
打印粗糙度形貌和测量报告
动态测针校准
锁定设置。防止数据被故意更改
表面测量仪器与系统Marsurf M1信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于表面测量仪器与系统Marsurf M1报价、型号、参数等信息，铂悦仪器客服电话：400-801-8356，欢迎来电或留言咨询。
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