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仪器简介：
多层结构薄膜的厚度测量。光学法，安全且简易。对高产出的质量控制和工艺监测，可以实现全自动测量。
硬件：
试样操作：全自动。可以对测量点的数量和各点之间的距离进行编程。测量宽度最大至5cm，长度没有限制。由软件引导测量过程的移动和停止。
厚度范围：
样品最大厚度650um（自动测量）
样品最大厚度1200um（手动测量）
尺寸重量：41（宽）x 26（深）x 23（高）cm；17kg
连接：电源90 – 260 V，50/60Hz（自动识别）。最大电源消耗 80VA。
PC同USB连接
计算机配置：PC，显示器，触摸屏和打印机可选
软件：
简介：M-Flex32电脑用，运行环境Windows2000/XP/Vista/7。
各层厚度测量：
层数不限。宽范围的信号分析和峰值搜索功能的自动测量。
报告输出：厚度结构图，数字报告和公差图，亦可设定格式。
多层结构薄膜的厚度测量。光学法，安全且简易。对高产出的质量控制和工艺监测，可以实现全自动测量。
硬件：
试样操作：全自动。可以对测量点的数量和各点之间的距离进行编程。测量宽度最大至5cm，长度没有限制。由软件引导测量过程的移动和停止。
厚度范围：
样品最大厚度650um（自动测量）
样品最大厚度1200um（手动测量）
尺寸重量：41（宽）x 26（深）x 23（高）cm；17kg
连接：电源90 – 260 V，50/60Hz（自动识别）。最大电源消耗 80VA。
PC同USB连接
计算机配置：PC，显示器，触摸屏和打印机可选
软件：
简介：M-Flex32电脑用，运行环境Windows2000/XP/Vista/7。
各层厚度测量：
层数不限。宽范围的信号分析和峰值搜索功能的自动测量。
报告输出：厚度结构图，数字报告和公差图，亦可设定格式。
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