AGTRON-M Basic II 近红外光谱仪-咖啡烘焙度色泽分析
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M-Basic II Agtron 近红外咖啡烘焙度焦糖化测定仪
AGTRON-M Basic II 专为测定咖啡豆和研磨咖啡烘焙度并进行精确评价而开发的近红外光谱仪。
与普通色泽测定仪不同，AGTRON-M Basic II 采用近红外光源，其最大反射率随烘焙度不同而变化。
AGTRON-M Basic II 专为测定咖啡豆和研磨咖啡烘焙度并进行精确评价而开发的近红外光谱仪。
与普通色泽测定仪不同，AGTRON-M Basic II 采用近红外光源，其最大反射率随烘焙度不同而变化。
应用领域
这款咖啡烘焙度分析仪具有高精度和解析度，为咖啡烘焙质控提供了具备前所未有的便捷和精确。
得益于这款仪器，您可以设定烘焙监控指标，大大提升产品均一性，品质和产量。
M-BASIC II 设计理念是确保仪器台间保持良好长期一致性。仪器台间差为0.30% ，长期测试台间差为0.50%。这相对于之前的M-BASIC分析仪来说是跨越式的改进。 即使不在同一使用地点，也能确保仪器台间一致性和数据可信度。
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