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梅特勒XP微量天平

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品牌

梅特勒托利多

型号

XP微量天平

产地

欧洲瑞士

应用领域

暂无

技术参数


型号 最大称量值
[g]
可读性
[mg]
重复性(sd)
[mg]
线性误差
[mg]
典型稳定时间
[s]
秤盘尺寸(W×D)
[mm]
XP26 22 0.001 0.0025 0.006 3.5 40×40
XP26DR 5.1/22 0.002/0.01 0.002/0.008 0.01 3.5/2.5 40×40
XP56 52 0.001 0.006 0.02 3.5 40×40
XP56DR 11/52 0.002/0.01 0.002/0.014 0.03 3.5/2.5 40×40
DR=变量程;sd=标准偏差

性能特点


●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确
●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作
●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量




最小称量值(Minweigh)功能:可设置多达3个符合不同质量法规(GMP/GLP/USP)的最小称量值,满足相关质量法规要求,获得无懈可击的称量帮助。

选配件


ErgoClip Flask micro(选件):小容量瓶易巧称量件,安全放置试管、容量瓶等去皮容器,实现微量样品的直接加样。

MinWeigh Door micro(选件):最小称量防风门,通过加样窗口直接将样品加入到去皮容器,无需开关防风罩,有效减少气流影响,快速获得稳定称量结果。

一体化去静电装置(选件):有效减少静电荷对称量结果准确性的影响。

 

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