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德国Fritsch公司是实验室样品预处理和颗粒度分析的专家。
Fritsch公司的A22 MicroTec Plus大量程激光粒度仪，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。最低检测下限可达0.08µm，在全球同类产品中都处于领先地位。
大量程激光粒度仪A22的推出，可以完全替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪，让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效，使用更加便捷。
技术参数：
1.分析方法：激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围：0.01 - 2000 µm
3. 测量时间：5-10 s（单一测量时测量值记录）；2min（整个测量循环）
4. 分析样品回路体积：300-500ml，可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期：2min
6.光学排列：反傅立叶设计，活动的测量元件（FRITSCH专利）
7. 测量通道：165
8. 测量结果的重现性：≤0.5％
9.光源：波长532nm 2束、波长940 nm 1束
10.双激光三束设计：绿光、红色双激光测量光束，绿色激光束背向补偿
11.傅里叶透镜：260mm和560mm焦距（绿光或红外线）
12.软件：采用FRITSCHMaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
13.符合国际ISO13320标准
主要特点：
1.大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus，可完全替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
2. 双激光三束设计: 绿光2束(532nm)， 红色激光1束 (940nm)
3. 先进的曲光系统
4. 双测量位置
5. 测量时间10 sec.
6.高效的自动光束测量阵列
7. 测量系统和湿法分散系统独立分开
8. 适用于在水相及大多数有机相（例如异丙醇） 中使用
9.可调节容积,通过电脑可实现选择：300、400、500ml
10.测量单元使用 Cardridge-like 设计 ->易于转换改变
11.可调节的超声波探头
12.无须使用搅拌器
Fritsch公司的A22 MicroTec Plus大量程激光粒度仪，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。最低检测下限可达0.08µm，在全球同类产品中都处于领先地位。
大量程激光粒度仪A22的推出，可以完全替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪，让您一次使用中可以同时获得过去三台机器的全部功效，使用更加便捷。
技术参数：
1.分析方法：激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围：0.01 - 2000 µm
3. 测量时间：5-10 s（单一测量时测量值记录）；2min（整个测量循环）
4. 分析样品回路体积：300-500ml，可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期：2min
6.光学排列：反傅立叶设计，活动的测量元件（FRITSCH专利）
7. 测量通道：165
8. 测量结果的重现性：≤0.5％
9.光源：波长532nm 2束、波长940 nm 1束
10.双激光三束设计：绿光、红色双激光测量光束，绿色激光束背向补偿
11.傅里叶透镜：260mm和560mm焦距（绿光或红外线）
12.软件：采用FRITSCHMaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
13.符合国际ISO13320标准
主要特点：
1.大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus，可完全替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
2. 双激光三束设计: 绿光2束(532nm)， 红色激光1束 (940nm)
3. 先进的曲光系统
4. 双测量位置
5. 测量时间10 sec.
6.高效的自动光束测量阵列
7. 测量系统和湿法分散系统独立分开
8. 适用于在水相及大多数有机相（例如异丙醇） 中使用
9.可调节容积,通过电脑可实现选择：300、400、500ml
10.测量单元使用 Cardridge-like 设计 ->易于转换改变
11.可调节的超声波探头
12.无须使用搅拌器
大量程纳米激光粒度仪信息由盛世致远（北京）科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于大量程纳米激光粒度仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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