SPECTRAFIRE 有2种测试模式,绝对测量模式和相对测量 (差分式)模式。在绝对测量模式中,近法向如射,半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下,无需校正。在相对测量(差分式)模式下,内置校正臂不起作用,而是提供一个参考样品进行背景扣除,然后测试样品。
此外,该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱,来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱,也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。
![](http://www.light-all.com/Writable/Resource/Picture/AZ/SpectraFire3.jpg)
准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部,样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置,用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜,以获得在测试光谱范围内的最大反射率。
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