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美国P+E 公司研发制造的的HEMS 氢气杂质分析质谱通过专利的氢气杂质分离技术，实现对这些杂质的行即时识别和定量分析，实时检测浓度可低至ppb，完全无需样品准备，直接在线监测，非常适用于在商业、工业和科研环境中操作。
HEMS可支持多种解决方案：
1.氢气燃料检测--符合美标 SAEJ2719/ISO14687-2
2.半导体行业EPI过程气体检测 -- 优化支持MOCVD 用气质量的监测
3.核电分离气检测—对核电反应堆的氚水进行吹扫还原气的纯度监控
技术参数：
- 相关资料
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HEMS-B for H2 Product Certification2013-12-20
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HEMS-M for H2 Fuel Analysis
2013-12-20
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Product Decifications
2013-12-20
氢气杂质分析质谱仪（H2 Impurities Analyzer）信息由通用实验科技（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于氢气杂质分析质谱仪（H2 Impurities Analyzer）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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