——检测下限低至1.1nm
产品介绍
PSMPS纳米颗粒物粒径谱仪是一个纳米颗粒物粒径分析系统,该系统创新地将改进后的DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器和CPC(Condensation Particle Counters)凝结核粒子计数器与AIRMODUS PSM(Particle Size Magnifier)颗粒物粒径放大器结合起来,将检测粒径范围拓展至1.1nm。1~2nm范围内的颗粒物粒径分布,对于帮助我们研究和理解高动态过程的新颗粒物形成(NPF)的基本机制以及颗粒物的形成速率和成长速率至关重要。
改进后的DMA可以最大程度的减少颗粒物的扩散损失,尤其是对于细微颗粒物,极大地提高了DMA对于1nm~3nm颗粒物的可通过性。DMA对颗粒物进行粒径分类,PSM对颗粒物进行初级凝结增大,CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。
工作原理
DMA对颗粒物进行粒径分类,PSM对颗粒物进行初级凝结增大,CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。
产品特征
2 PSMPS系统将测量粒径拓展到1.1nm
2 紧凑的配置,多合一的结局方案
2 多种中和器可选
2 扫描、步进和单颗粒模式可供选择
2 监测软件操作简单,自动高效
2 可外接传感器输入所需参数,如温湿度等
2 适合用于各种纳米颗粒物应用,如:大气成核,纳米颗粒物生长、凝结与运输等。
使用PSMPS捕捉到的颗粒物形成的快速变化过程
技术参数
DMA参数 | |
测量范围 | S-DMA:1.1~55nm M-DMA:2.8~155nm |
分辨率 | 步进模式:45~255通道 扫描模式:64通道,对数间隔 |
HV输出 | 正电极或负电极,5~10000V |
PSM参数 | |
工作液 | 二甘醇 |
D50切割点 | 1.3~3.5nm可调 |
采样流速 | 2.5LPM |
电源 | 100~240 VAC; 50/60 Hz; max. 280 W |
尺寸 | 29 x 45 x 46.5 cm |
重量 | 17kg |
5417CPC参数 | |
工作液 | 异丙醇 |
D50切割点 | 4nm |
采样流速 | 0.3或0.6LPM |
鞘气流速 | 3或10LPM |
浓度范围 | 150000 P/cm3(单颗粒模式) 107 P/cm3(光度计模式) |
电源 | 90~264 VAC; 47~63 Hz; 80~130 W |
尺寸 | 40 x 25 x 29 cm |
重量 | 12.4kg |
PSMPS系统参数 | |
数据输出 | 颗粒物粒径谱图 |
样气湿度 | 0~95 % RH, 无冷凝 |
压力范围 | 600~1050 mbar |
1年
否
有
2天3人次培训
一年一次
免费维修
8小时响应,24小时到达现场
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