美国菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY 4000
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特点
§ 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
§ 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
§ 操作简单，设置时间短
§ X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
§ 有定位装置，用于测量多个位置进行测量
§ 根据客户需要专门设计
§ 自动校准
§ 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
§ 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中
典型应用领域
§ 电镀条带，例如接触点、冲压带
§ 测量热镀锌钢带
§ 太阳能薄膜电池（光伏产业
§ 薄膜和条带上的金属涂镀层
§ 电子工业及其供应商
§ 生产过程监控
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