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美国ZMIKE 激光测径仪
美国ZMIKE台式外形尺寸激光测径仪，测量精度高，测量速度快，可单次或连续测量，可满足不同测量应用领域。与传统的接触式外形几何尺寸测量比较，BenchMike采用了激光非接触测量原理。对原始测量数据自动采集、处理，数字显示等技术，降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了测量的精度。友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯，将使用者从繁重的测量中解放出来。特别是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测量束手无策的被测量任务，BenchMike可提供满意的测量。
主要特点：
◆ 测量精度高，测量速度快。可满足不同测量应用领域
◆ 丰富的测量模式满足不同的测量应用
◆ 采用了全新数据处理技术，图形用户交互(GUI)界面、快捷按键使测量更直观，操作更便利
◆ 具有测量应用库及自编辑被测量功能，配合专用夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测量扩充能力
◆ 单点及双点自动校准功能，减少了使用条件的变化对测量的影响，使仪表维护更方便
测量原理：
采用激光扫描原理进行测量，如右图所示，激光发生装置产生的激光，照射在马达驱动的高速旋转棱镜上,通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束，测试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影，会在光电收集端形成信号的阶跃，阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置等参数。
技术参数:
| 型 号 | 4025S | 4025G | 4050S | 4050G |
| 测量范围 | 0.1 - 25.4 mm | 0.1 - 25.4 mm | 0.25 - 50 mm | 0.25 - 50 mm |
| 复现性误差 | ±0.3 μm | ±0.13 μm | ±0.5 μm | ±0.25 μm |
| 线性误差 | ±0.9 μm | ±0.5 μm | ±1.5 μm | ±0.76μm |
| 光线面积 | 56.1 mm | 56.1 mm | 77.5 mm | 77.5 mm |
| 测试区间范围 | ±1.5 x 25 mm | ±1.5 x 25 mm | ±3 x 50 mm | ±3 x 50 mm |
| 扫描光尺寸 | 125 μm | 125 μm | 250 μm | 250 μm |
美国ZMIKE 激光测径仪信息由上海洛丰精密检测仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于美国ZMIKE 激光测径仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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