特点:
1.第三代微区分析X射线荧光能谱仪;
不仅可对样品的微小区域进行快速的元素无损分析,还可对超大样品的表面(面积可达EC 标准线路板规格的2倍, 233x160mm) 进行元素分布分析;
2.专为满足多种分析任务而研发的微区分析仪器;
3.灵敏度高,无破坏性,适用于多种行业及科研领域;
4.激发源采用风冷式细焦点X射线管;
5.准直器由软件精确控制,测量点的尺寸可在200μm -4mm 之间以固定的步幅调整;
6.检测器(SDD)采用高分辨硅漂移,半导体制冷,计数率高达250,000cps;
7.可对完全未知样品进行快速分析,完成从Mg ~ U所有元素的测定只需不到180秒;
8.可对完全未知样品进行快速分析,完成从Mg ~ U所有元素的测定只需不到180秒;
9.氦气保护系统可保证轻元素的分析效果,对样品不会有任何损伤,氦气消耗量少;
10.分析过程简单、快速、流畅。只需把样品放到样品台上,根据引导程序,即可完成单点测定、直线扫描或元素分布分析。
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