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美国Hinds成立于1971年，凭借其专利的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上最高的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).
? 光学器件
? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片
? 激光晶体
? DVDs
? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等
? 相机镜头
? 太阳能硅片,半导体晶圆
典型用户
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 长春光机所 | 2013-06-05 |
| 上海光机所 | 2012-07-01 |
- 相关资料
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美国Hinds应力双折射测量系统2014-08-11
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