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Phasics SID4波前测试仪 SID4 HR

报价 ¥5万 - 10万

品牌

Phasics

型号

SID4 UV,SID4 HR,SID4 SWIR HR,SID4 DWIR;

产地

欧洲法国

应用领域

暂无

SID4 HR 为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率(416 x 360)和高动态范围(500 µm PV)。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束,而无需添加任何中继镜或准直光学系统。

主要特点416 x 360超高相位取样分辨率9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束产品应用•激光,自适应光学及等离子体检测• 光学元件及光学系统计量•微观材料检测

SID4 SWIR HR光谱 短波红外 (900 - 1700 nm)SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率(160 x 128相位取样点)和高灵敏度,它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案,可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

主要特点覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段160 x 128 高相位分辨率高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试应用•激光,自适应光学及等离子体检测 •光学元件及光学系统计量

SID4 DWIR光谱 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件,黑体光源,3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

主要特点160 x 120 高相位分辨率中远红外双波段2合1高数值孔径测量无需过渡镜产品应用•激光,自适应光学及等离子体检测 •光学元件及光学系统计量

KALEO套件光谱 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm)Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成,可让用户搭建一个经济有效,体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景,确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征,包括:波前像差,MTF,PSF等。

主要特点多功能性:覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术:兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易:系统紧凑且便于快速对准产品应用•光学元件及光学系统计量



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